電子設(shè)備絕大部分的故障最終都是由元器件老化損壞引起，如熟悉各種器件的特性，損壞機(jī)理及故障類型，就能依賴萬用表簡單測電阻，導(dǎo)通壓降等很快找出故障，所以了解熟悉電子器件的失效機(jī)理和故障現(xiàn)象，對發(fā)現(xiàn)分析解決故障有很大幫助。

主要是晶體管，二極管，MOS管，可控硅等，其中關(guān)鍵測試PN結(jié)，失效原因一般是設(shè)計制造質(zhì)量，過壓，過流，溫度，潮濕，老化等引起。

常見故障有：

1）擊穿：常由于PN結(jié)被電壓，電流打壞，引起正反向電阻接近或?qū)ń咏?，用數(shù)字表PN結(jié)檔測量很容易測出。但是對一些軟故障如熱擊穿要一定條件下才能出現(xiàn)解決。

2）開路：往往是通過電流過大引起，同上測PN結(jié)很容易發(fā)現(xiàn)，正反向電阻都無窮大。

3）放大倍數(shù)變化，性能下降且受溫度影響引起，一般對數(shù)字電路影響不大。對模擬放大電路可能引起失真噪音或嘯叫。

4）驅(qū)動性能下降或失效：對MOS管，由于其柵極一不小心就會被靜電擊穿造成管子損壞，所以搬移安裝中千萬注意；可控硅的控制極也有可能擊穿損壞，檢測中要注意。

不同晶體管結(jié)構(gòu)不同，檢查方法也不同，MOS管測內(nèi)部寄生二極管(續(xù)流二極管）

只要擊穿了該管子也損壞了。對可控硅從等效電路圖來測相應(yīng)的數(shù)值判斷。